G01N23-00 Grupo CIP · Nivel más específico
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos x o neutrones, no cubiertos por los grupos , o
Patentes
14
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Subclase
Investigacion o analisis de materiales por determinacion de sus propiedades quimicas o fisicas
Clase
Metrologia
Patentes registradas (14)
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#1
Metodo para determinar el contenido de elementos usando el analisis de la fluorescencia de rayos-x de dispersion de ondas y dispersion de energia.
199901880 Patente de Invención
#2
Metodo y dispositivo para detectar depositos de material en la superficie interna de un tubo para transportar fluidos de hidrocarburo que usa una unidad de deteccion en el tubo la cual emite rayos-x y un detector integrado que detecta fluorescencia de rayos-x de vuelta desde el deposito de material.
200900955 Patente de Invención
#3
Metodo y aparato para clasificar y separar un constituyente de un material que incluye exponer el material a radiacion de rayos x con diferentes niveles de energia y detectar rayos x transmitidos a traves del material mediante dos arreglos alineados que detectan rayos x con diferentes niveles de energia
199600552 Patente de Invención
#4
Disposicion de ventana de medicion para un analizador de rayos x que contiene: una estructura de tapa (6) hecha de material ceramico, que define la abertura de medicion (7), una superficie de sellado (8) plana y tiene una seccion curva.
201102983 Patente de Invención
#5
Metodo para determinar el contenido de mineral de residuos de perforacion irradiando dichos residuos con rayos x o laser ultravioleta y detectando radiacion de fluorescencia y radiacion por dispersion de compton o coherente.
201200132 Patente de Invención
#6
Metodo para determinar la concentracion de un elemento en un material; aparato que lo comprende.
201402111 Patente de Invención
#7
Un metodo para la deteccion de cortes longitudinales en cintas transportadoras, mediante el uso de un haz de microondas.
201402491 Patente de Invención
#8
Metodo y sistema para clasificar mineral no mezclado mediante el reconocimiento de patrones a traves de la irradiacion de la muestra de mineral no mezclado con energia electromagnetica midiendo con un sensor la energia absorbida, reflejada o retrodispersa desde la muestra de mineral no mezclado.
201402924 Patente de Invención
#9
Sistema para clasificar mineral de una corriente de mineral que comprende una primera fase de clasificacion de tamaño, una primera cascada de clasificacion con primera celda de clasificacion de fraccion gruesa y una segunda cascada de clasificacion con celda de clasificacion de fraccion fina.
201402925 Patente de Invención
#10
Metodo para prueba no destructiva de cuerdas sinteticas sometidas a rayos x, terahercios, campo magnetico permanente o analisis electromagnetico para determinar un patron que son comparados con un patron estandar; cuerda que comprende al menos dos tipos de fibra de diferentes densidades pero del mismo material polimerico.
201500465 Patente de Invención
#11
Método para determinar contenido de ópalo c y de cristobalita de un producto que comprende diatomita.
201800992 Patente de Invención
#12
Método y sistema para preparar y analizar muestra no directamente detectable mediante fluorescencia de rayos x (xrf).
201803874 Patente de Invención
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