DISPOSICION DE VENTANA DE MEDICION PARA UN ANALIZADOR DE RAYOS X QUE CONTIENE: UNA ESTRUCTURA DE TAPA (6) HECHA DE MATERIAL CERAMICO, QUE DEFINE LA ABERTURA DE MEDICION (7), UNA SUPERFICIE DE SELLADO (8) PLANA Y TIENE UNA SECCION CURVA.

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  • Nro. Solicitud: 201102983
  • Tipo de Solicitud: Patente de Invención
  • Fecha de presentación de la solicitud: 25/11/2011
  • Estado de Trámite: Registrada
  • Número de registro: 52172
  • Fecha de asignación de número de registro: 04/03/2016
  • Fecha de publicación: 20/04/2012
  • Fecha prevista de la expiración del registro: 24/05/2030

Título de la solicitud

DISPOSICION DE VENTANA DE MEDICION PARA UN ANALIZADOR DE RAYOS X QUE CONTIENE: UNA ESTRUCTURA DE TAPA (6) HECHA DE MATERIAL CERAMICO, QUE DEFINE LA ABERTURA DE MEDICION (7), UNA SUPERFICIE DE SELLADO (8) PLANA Y TIENE UNA SECCION CURVA.

Solicitante(s)

Nombre Solicitante País
METSO OUTOTEC FINLAND OY FINLANDIA

Representante(s)

Nombre Representante País
JOHANSSON Y LANGLOIS LIMITADA CHILE

Inventores

Nombre Inventor País
MANN, KARI FINLANDIA
VON ALFTHAN, CHRISTIAN. FINLANDIA

Clasificación IPC

G01N23/223;
IPC Descripción
G01N23/223 INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES MEDIANTE LA UTILIZACIÓN DE RADIACIONES DE ONDAS O PARTÍCULAS, P. EJ. RAYOS X O NEUTRONES, NO CUBIERTOS POR LOS GRUPOS , O => MIDIENDO LA EMISIÓN SECUNDARIA DEL MATERIAL => => IRRADIANDO LA MUESTRA CON RAYOS X O RAYOS GAMMA Y MIDIENDO LA FLUORESCENCIA DE RAYOS X

Datos relativos a la prioridad

Fecha Número País
26/05/2009 20090209 FINLANDIA