Método y sistema para preparar y analizar muestra no directamente detectable mediante fluorescencia de rayos x (xrf).

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  • Nro. Solicitud: 201803874
  • Tipo de Solicitud: Patente de Invención
  • Fecha de presentación de la solicitud: 28/12/2018
  • Estado de Trámite: Registrada
  • Número de registro: 68084
  • Fecha de asignación de número de registro: 12/12/2023
  • Fecha de publicación: 01/03/2019
  • Fecha prevista de la expiración del registro: 30/06/2037

Título de la solicitud

MÉTODO Y SISTEMA PARA PREPARAR Y ANALIZAR MUESTRA NO DIRECTAMENTE DETECTABLE MEDIANTE FLUORESCENCIA DE RAYOS X (XRF).

Solicitante(s)

Nombre Solicitante País
COMMONWEALTH SCIENTIFIC AND INDUSTRIAL RESEARCH ORGANISATION AUSTRALIA

Representante(s)

Nombre Representante País
CLARKE MODET Y C CHILE SPA CHILE

Inventores

Nombre Inventor País
LINTERN, MELVYN AUSTRALIA

Clasificación IPC

G01N1/38; G01N23/220; G01N23/223;
IPC Descripción
G01N1/38 MUESTREO => PREPARACIÓN DE MUESTRAS PARA EL ANÁLISIS => => DISOLUCIÓN, DISPERSIÓN O MEZCLA DE MUESTRAS
G01N23/220 INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES MEDIANTE LA UTILIZACIÓN DE RADIACIONES DE ONDAS O PARTÍCULAS, P. EJ. RAYOS X O NEUTRONES, NO CUBIERTOS POR LOS GRUPOS , O => NO EXISTE EN LA VERSION 2025
G01N23/223 INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES MEDIANTE LA UTILIZACIÓN DE RADIACIONES DE ONDAS O PARTÍCULAS, P. EJ. RAYOS X O NEUTRONES, NO CUBIERTOS POR LOS GRUPOS , O => MIDIENDO LA EMISIÓN SECUNDARIA DEL MATERIAL => => IRRADIANDO LA MUESTRA CON RAYOS X O RAYOS GAMMA Y MIDIENDO LA FLUORESCENCIA DE RAYOS X

Datos relativos a la prioridad

Fecha Número País
30/06/2016 1611434.0 REINO UNIDO