Nº 201803874 Patente registrada en INAPI
Método y sistema para preparar y analizar muestra no directamente detectable mediante fluorescencia de rayos x (xrf).
Concedida
Solicitud
201803874
Tipo
Patente de Invención
Registro
68084
Inventores (1)
Personas que figuran como creadoras de la invención
LM
LINTERN, MELVYN
AUSTRALIA
Solicitantes (1)
Personas o empresas que solicitan la patente
CO
COMMONWEALTH SCIENTIFIC AND INDUSTRIAL RESEARCH ORGANISATION
AUSTRALIA
Representantes legales (1)
Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI
Clasificación CIP (3)
Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes
G01N1/38
Muestreo => Preparación de muestras para el análisis => => Disolución, dispersión o mezcla de muestras G01N23/220
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => NO EXISTE EN LA VERSION 2025 G01N23/223
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => midiendo la emisión secundaria del material => => irradiando la muestra con rayos X o rayos gamma y midiendo la fluorescencia de rayos X Datos de prioridad (1)
Prioridades reclamadas en otras jurisdicciones
REINO UNIDO
Nº 1611434.0
30/06/2016