METODO PARA DETERMINAR EL CONTENIDO DE ELEMENTOS USANDO EL ANALISIS DE LA FLUORESCENCIA DE RAYOS-X DE DISPERSION DE ONDAS Y DISPERSION DE ENERGIA.

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  • Nro. Solicitud: 199901880
  • Tipo de Solicitud: Patente de Invención
  • Fecha de presentación de la solicitud: 19/08/1999
  • Estado de Trámite: Registrada
  • Número de registro: 48468
  • Fecha de asignación de número de registro: 01/08/2012
  • Fecha de publicación: 22/05/2000
  • Fecha prevista de la expiración del registro: 24/05/2027

Título de la solicitud


METODO PARA DETERMINAR EL CONTENIDO DE ELEMENTOS USANDO EL ANALISIS DE LA FLUORESCENCIA DE RAYOS-X DE DISPERSION DE ONDAS Y DISPERSION DE ENERGIA.

Solicitante(s)


Nombre Solicitante País
METSO OUTOTEC FINLAND OY FINLANDIA

Representante(s)


Nombre Representante País
JOHANSSON Y LANGLOIS LIMITADA CHILE

Inventores


Nombre Inventor País
CHRISTIAN VON ALFTHAN FINLANDIA

Clasificación IPC


G01N23/20; G01N23/207; G01N23/223;
IPC Descripción
G01N23/20 INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES MEDIANTE LA UTILIZACIÓN DE RADIACIONES DE ONDAS O PARTÍCULAS, P. EJ. RAYOS X O NEUTRONES, NO CUBIERTOS POR LOS GRUPOS , O => NO EXISTE EN LA VERSION 2025
G01N23/207 INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES MEDIANTE LA UTILIZACIÓN DE RADIACIONES DE ONDAS O PARTÍCULAS, P. EJ. RAYOS X O NEUTRONES, NO CUBIERTOS POR LOS GRUPOS , O => => DIFRACTOMETRÍA, P. EJ. UTILIZANDO UNA SONDA EN POSICIÓN CENTRAL Y UNO O VARIOS DETECTORES MÓVILES DISPUESTOS EN CÍRCULO
G01N23/223 INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES MEDIANTE LA UTILIZACIÓN DE RADIACIONES DE ONDAS O PARTÍCULAS, P. EJ. RAYOS X O NEUTRONES, NO CUBIERTOS POR LOS GRUPOS , O => MIDIENDO LA EMISIÓN SECUNDARIA DEL MATERIAL => => IRRADIANDO LA MUESTRA CON RAYOS X O RAYOS GAMMA Y MIDIENDO LA FLUORESCENCIA DE RAYOS X

Datos relativos a la prioridad


Fecha Número País
24/08/1998 981810 FINLANDIA