Nº 199901880 Patente registrada en INAPI
Metodo para determinar el contenido de elementos usando el analisis de la fluorescencia de rayos-x de dispersion de ondas y dispersion de energia.
Concedida
Solicitud
199901880
Tipo
Patente de Invención
Registro
48468
Inventores (1)
Personas que figuran como creadoras de la invención
CA
CHRISTIAN VON ALFTHAN
FINLANDIA
Solicitantes (1)
Personas o empresas que solicitan la patente
MO
METSO OUTOTEC FINLAND OY
FINLANDIA
Representantes legales (1)
Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI
Clasificación CIP (3)
Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes
G01N23/20
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => NO EXISTE EN LA VERSION 2025 G01N23/207
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => => Difractometría, p. ej. utilizando una sonda en posición central y uno o varios detectores móviles dispuestos en círculo G01N23/223
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => midiendo la emisión secundaria del material => => irradiando la muestra con rayos X o rayos gamma y midiendo la fluorescencia de rayos X Datos de prioridad (1)
Prioridades reclamadas en otras jurisdicciones
FINLANDIA
Nº 981810
24/08/1998