G01M11-00 Grupo CIP · Nivel más específico
Ensayo de aparatos ópticos
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3
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Subclase
Ensayo del equilibrado estatico o dinamico de maquinas o estructuras
Clase
Metrologia
Patentes registradas (3)
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#1
Metodo y sistema de colocacion de un aparato para supervisar un parametro de reflectores parabolicos de un campo termico solar, que comprende; colocar el aparato en una primera ubicacion con respecto al reflector parabolico, adquirir informacion del tubo absorbedor, y colocar el aparato en una segunda ubicacion.
201400822 Patente de Invención
#2
Dispositivo, sistema y procedimiento de caracterizacion de elementos reflectores a partir de los haces de luz reflejados en los mismos
202100183 Patente de Invención
#3
Sistemas, métodos y herramientas para el examen de miembros de resistencia de compuestos.
202002159 Patente de Invención
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