Dispositivo, sistema y procedimiento de caracterizacion de elementos reflectores a partir de los haces de luz reflejados en los mismos

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  • Nro. Solicitud: 202100183
  • Tipo de Solicitud: Patente de Invención
  • Fecha de presentación de la solicitud: 22/01/2021
  • Estado de Trámite: Registrada
  • Número de registro: 65700
  • Fecha de asignación de número de registro: 17/10/2022
  • Fecha de publicación: 06/08/2021
  • Fecha prevista de la expiración del registro: 25/07/2039

Título de la solicitud

DISPOSITIVO, SISTEMA Y PROCEDIMIENTO DE CARACTERIZACION DE ELEMENTOS REFLECTORES A PARTIR DE LOS HACES DE LUZ REFLEJADOS EN LOS MISMOS

Solicitante(s)

Nombre Solicitante País
FUNDACIÓN CENER-CIEMAT ESPAÑA

Representante(s)

Nombre Representante País
JOHANSSON Y LANGLOIS LIMITADA CHILE

Inventores

Nombre Inventor País
GARCIA-BARBERENA LABIANO, JAVIER ESPAÑA
HERAS VILA, CARLOS ESPAÑA
IZQUIERDO NÚÑEZ, DAVID ESPAÑA
LES AGUERREA, IÑIGO ESPAÑA
MUTUBERRIA LARRAYOZ, AMAIA ESPAÑA
PEÑA LAPUENTE, ADRIAN ESPAÑA
SALINA ÁRIZ, IÑIGO ESPAÑA
SANCHEZ GONZALEZ, MARCELINO ESPAÑA

Clasificación IPC

F24S50/20; F24S50/80; G01M11/00;
IPC Descripción
F24S50/20 DISPOSICIONES PARA EL CONTROL DE COLECTORES TERMOSOLARES => NO EXISTE EN LA VERSION 2025
F24S50/80 DISPOSICIONES PARA EL CONTROL DE COLECTORES TERMOSOLARES => NO EXISTE EN LA VERSION 2025
G01M11/00 ENSAYO DE APARATOS ÓPTICOS

Datos relativos a la prioridad

Fecha Número País
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