Título de la solicitud
METODO Y SISTEMA DE COLOCACION DE UN APARATO PARA SUPERVISAR UN PARAMETRO DE REFLECTORES PARABOLICOS DE UN CAMPO TERMICO SOLAR, QUE COMPRENDE; COLOCAR EL APARATO EN UNA PRIMERA UBICACION CON RESPECTO AL REFLECTOR PARABOLICO, ADQUIRIR INFORMACION DEL TUBO ABSORBEDOR, Y COLOCAR EL APARATO EN UNA SEGUNDA UBICACION.
Solicitante(s)
| Nombre Solicitante | País |
| SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT | ALEMANIA |
Representante(s)
| Nombre Representante | País |
| CLARKE MODET & CO., CHILE LIMITADA | CHILE |
Inventores
| Nombre Inventor | País |
| COTHURU, SANTHOSH KUMAR | INDIA |
| ISSANI, SIRAJ | INDIA |
| PRABHU, VISHAL | INDIA |
| SETHUVENKATRAMAN, GANAPATHI SUBBU | INDIA |
Clasificación IPC
F24J2/14; G01M11/00;
| IPC | Descripción |
| G01M11/00 | ENSAYO DE APARATOS ÓPTICOS |
Datos relativos a la prioridad
| Fecha | Número | País |
| 09/02/2012 | 12154762.4 | OFICINA EUROPEA DE PATENTES |