G01J3-00 Grupo CIP · Nivel más específico
Espectrometría
Patentes
8
Páginas
1
Subclase
Medida de la intensidad, de la velocidad, del espectro, de la polarizacion, de la fase o de caracteristicas de impulsos de la luz infrarroja, visible o ultravioleta
Clase
Metrologia
Patentes registradas (8)
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#1
Metodo y sistema de control para un proceso de produccion de un sustrato laminado, donde se aplica al sustrato un endurecedor, una resina y se transporta a una prensa, comprendiendo las etapas de recolectar un primer y segundo conjunto de datos de medicion y controlar la cantidad de resina que se aplicara sobre el sustrato.
200602184 Patente de Invención
#2
Metodo para obtener datos moleculares en forma no destructiva de un especimen farmaceutico en un microscopio electronico que comprende el uso de manera combinada de un sistema de aparatos para producir una imagen, para producir senales, para mapear una imagen y para detectar la radiacion dispersada por el especimen.
200300213 Patente de Invención
#3
Metodo y dispositivo para determinar cuantitativamente las caracteristicas opticas superficiales de un objeto de referencia compuesto por una pluralidad de capas opticamente diferenciables.
200803661 Patente de Invención
#4
Aparato y metodo para producir un producto farmaceutico que tiene un substrato portador y una dosis de agente activo, con un modulo de distribucion de dosis bajo presion; un metodo para control de calidad por espectroscopia del producto farmaceutico.
200501383 Patente de Invención
#5
Un sistema y procedimiento para la deteccion de cuerpos extraños en moluscos bivaldos desconchados, que comprende una cinta transportadora, un cilindro de acrilico, una camara multiespectral, una fibra optica, una fuente de iluminacion halogena y un hardware para realizar un analisis cuantitativo de la muestra.
201101467 Patente de Invención
#6
Instrumento espectrometrico y metodo para hacerlo funcionar, que comprende un interferometro que tiene un divisor de haz para dividir la radiacion optica incidente en un haz reflejado y un haz transmitido; una fuente de radiacion optica de referencia al interferometro a lo largo de un primer trayecto de propagacion.
201203059 Patente de Invención
#7
Un analizador de espectroscopía de plasma inducido por láser (libs).
201300883 Patente de Invención
#8
Sistema de medida de alta precision en tiempo real de la atenuación atmosférica de una radiación electromagnética de al menos una fuente y metodo de medida.
202100110 Patente de Invención
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