METODO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR CUANTITATIVAMENTE LAS CARACTERISTICAS OPTICAS SUPERFICIALES DE UN OBJETO DE REFERENCIA COMPUESTO POR UNA PLURALIDAD DE CAPAS OPTICAMENTE DIFERENCIABLES.

  • Inicio
  • Directorio de Patentes
  • METODO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR CUANTITATIVAMENTE LAS CARACTERISTICAS OPTICAS SUPERFICIALES DE UN OBJETO DE REFERENCIA COMPUESTO POR UNA PLURALIDAD DE CAPAS OPTICAMENTE DIFERENCIABLES.
  • Nro. Solicitud: 200803661
  • Tipo de Solicitud: Patente de Invención
  • Fecha de presentación de la solicitud: 10/12/2008
  • Estado de Trámite: Registrada
  • Número de registro: 49509
  • Fecha de asignación de número de registro: 28/08/2013
  • Fecha de publicación: 10/12/2010
  • Fecha prevista de la expiración del registro: 10/12/2028

Título de la solicitud

METODO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR CUANTITATIVAMENTE LAS CARACTERISTICAS OPTICAS SUPERFICIALES DE UN OBJETO DE REFERENCIA COMPUESTO POR UNA PLURALIDAD DE CAPAS OPTICAMENTE DIFERENCIABLES.

Solicitante(s)

Nombre Solicitante País
APLIK S.A. CHILE

Representante(s)

Nombre Representante País
CLARKE MODET Y C CHILE SPA CHILE

Inventores

Nombre Inventor País
DANIEL SERPELL CARRIQUIRY, GUILLERMO VIDAL QUEVEDO, RODRIGO RUBIO AGUILAR , NICOLAS SLUSARENKO FERNANDEZ Y JAIME RAMIREZ MANCILLA CHILE

Clasificación IPC

A61B6/14; G01J3/46;
IPC Descripción
A61B6/14 APARATOS O DISPOSITIVOS DE RADIODIAGNÓSTICO => NO EXISTE EN LA VERSION 2025
G01J3/46 ESPECTROMETRÍA => MEDIDA DEL COLOR

Datos relativos a la prioridad

Fecha Número País
NO SE ENCONTRARON REGISTROS