Nº 200803661 Patente registrada en INAPI

Metodo y dispositivo para determinar cuantitativamente las caracteristicas opticas superficiales de un objeto de referencia compuesto por una pluralidad de capas opticamente diferenciables.

Concedida
Solicitud
200803661
Tipo
Patente de Invención
Registro
49509

Inventores (1)

Personas que figuran como creadoras de la invención

DM
DANIEL SERPELL CARRIQUIRY, GUILLERMO VIDAL QUEVEDO, RODRIGO RUBIO AGUILAR , NICOLAS SLUSARENKO FERNANDEZ Y JAIME RAMIREZ MANCILLA
CHILE

Solicitantes (1)

Personas o empresas que solicitan la patente

AS
APLIK S.A.
CHILE

Representantes legales (1)

Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI

CS
CLARKE MODET Y C CHILE SPA
RUT 78773320-4

Clasificación CIP (2)

Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes

A61B6/14
Aparatos o dispositivos de radiodiagnóstico => NO EXISTE EN LA VERSION 2025
G01J3/46
Espectrometría => Medida del color