Nº 202002976 Patente registrada en INAPI
Un sistema de análisis geológico, con una pluralidad de sensores con un sensor de fluorescencia de rayos x (xrf), una bandeja de muestras con una pluralidad de cámaras cóncavas, y un procesador.
Concedida
Solicitud
202002976
Tipo
Patente de Invención
Registro
66572
Inventores (2)
Personas que figuran como creadoras de la invención
SI
SANDEN, GRANT I.
CANADÁ
SR
SEGAL, YANNAI Z. R.
CANADÁ
Solicitantes (1)
Personas o empresas que solicitan la patente
EI
ENERSOFT INC.
CANADÁ
Representantes legales (1)
Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI
MP
MARINO PORZIO
Clasificación CIP (3)
Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes
G01N23/22
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => midiendo la emisión secundaria del material G01N23/223
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => midiendo la emisión secundaria del material => => irradiando la muestra con rayos X o rayos gamma y midiendo la fluorescencia de rayos X G01N35/02
Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos
=> utilizando una serie de recipientes con muestras desplazadas por un transportador que pasa delante de uno o más puestos de tratamiento o análisis