Patente: Sistema integral de fuentes de ortovoltaje que inducen radiación ionizante.

Inventores (1)

Personas que figuran como creadoras de la invención

FG

FIGUEROA SAAVEDRA, RODOLFO GABRIEL

CHILE

Solicitantes (1)

Personas o empresas que solicitan la patente

UF

UNIVERSIDAD DE LA FRONTERA

CHILE RUT 87912900-1

Representantes legales (1)

Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI

CS

CLARKE MODET & CO. CHILE SpA.

Clasificación CIP (8)

Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes

G01N23/00

Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o

G01N23/02

Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => transmitiendo la radiación a través del material

G01N23/04

Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => transmitiendo la radiación a través del material => => y formando imágenes del material

G01N23/041

Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => transmitiendo la radiación a través del material => y formando imágenes del material => => Obtención de imágenes por contraste de fase, p. ej. utilizando interferómetros de rejilla

G01N23/044

Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => transmitiendo la radiación a través del material => y formando imágenes del material => => utilizando laminografía o tomosíntesis

G01N23/046

Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => transmitiendo la radiación a través del material => y formando imágenes del material => => mediante tomografía, p. ej. tomografía computarizada [CT]

G01N23/22

Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => midiendo la emisión secundaria del material

G01N23/223

Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => midiendo la emisión secundaria del material => => irradiando la muestra con rayos X o rayos gamma y midiendo la fluorescencia de rayos X