Nº 202200564 Patente registrada en INAPI
Sistema integral de fuentes de ortovoltaje que inducen radiación ionizante.
Concedida
Solicitud
202200564
Tipo
Patente de Invención
Registro
69524
Inventores (1)
Personas que figuran como creadoras de la invención
FG
FIGUEROA SAAVEDRA, RODOLFO GABRIEL
CHILE
Solicitantes (1)
Personas o empresas que solicitan la patente
Representantes legales (1)
Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI
CS
CLARKE MODET & CO. CHILE SpA.
Clasificación CIP (8)
Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes
G01N23/00
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o G01N23/02
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => transmitiendo la radiación a través del material G01N23/04
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => transmitiendo la radiación a través del material => => y formando imágenes del material G01N23/041
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => transmitiendo la radiación a través del material => y formando imágenes del material => => Obtención de imágenes por contraste de fase, p. ej. utilizando interferómetros de rejilla G01N23/044
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => transmitiendo la radiación a través del material => y formando imágenes del material => => utilizando laminografía o tomosíntesis G01N23/046
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => transmitiendo la radiación a través del material => y formando imágenes del material => => mediante tomografía, p. ej. tomografía computarizada [CT] G01N23/22
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => midiendo la emisión secundaria del material G01N23/223
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos , o => midiendo la emisión secundaria del material => => irradiando la muestra con rayos X o rayos gamma y midiendo la fluorescencia de rayos X Preguntas frecuentes
¿Quién es el titular de la patente "Sistema integral de fuentes de ortovoltaje que inducen radiación ionizante"?
El solicitante es Universidad de la Frontera.
¿La patente está vigente?
Sí. La patente fue concedida (registro Nº 69524) y su protección vence el 9 de septiembre de 2040.
¿En qué categoría técnica se clasifica?
Se clasifica en G01N23/00, G01N23/02 y G01N23/04 de la Clasificación Internacional de Patentes (CIP): investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos x o…
¿Cuándo se solicitó la patente?
La solicitud Nº 202200564 se presentó el 8 de marzo de 2022, se publicó el 18 de noviembre de 2022 y se concedió el 21 de agosto de 2024.