G01B15-00 Grupo CIP · Nivel más específico
Sistemas de medición caracterizados por el empleo de ondas electromagnéticas o radiación de partículas, p.ej. mediante microondas, rayos x, rayos gamma o electrones
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Subclase
Medida de la longitud, espesor o dimensiones lineales analogas
Clase
Metrologia
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