Título de la solicitud
UN SISTEMA Y METODO PARA DETECTAR PIEZAS METALICAS OCULTAS DENTRO DE UNA CARGA DE MINERAL, DIRECTAMENTE EN UN MEDIO DE TRANSPORTE HACIA UN CHANCADOR PRIMARIO.
Solicitante(s)
| Nombre Solicitante | País |
| TECNOLOGIA INTEGRAL S.A. | CHILE |
Representante(s)
Inventores
| Nombre Inventor | País |
| MARTINEZ GODOY, GASTON GUILLERMO | CHILE |
| PEDRAZA SEGOVIA, PEDRO DANIEL | CHILE |
| CALDERON MALDONADO, MIGUEL JESUS | CHILE |
Clasificación IPC
G01B11/00; G01N27/00; G01N29/00; G01V3/00;
| IPC | Descripción |
| G01B11/00 | SISTEMAS DE MEDICIÓN CARACTERIZADOS POR EL EMPLEO DE TÉCNICAS ÓPTICAS |
| G01N27/00 | INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES MEDIANTE EL EMPLEO DE MEDIOS ELÉCTRICOS, ELECTROQUÍMICOS O MAGNÉTICOS |
| G01N29/00 | INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES POR EL EMPLEO DE ONDAS ULTRASONORAS, SONORAS O INFRASONORAS |
| G01V3/00 | PROSPECCIÓN O DETECCIÓN ELÉCTRICA O MAGNÉTICA |
Datos relativos a la prioridad
| Fecha | Número | País |
| NO SE ENCONTRARON REGISTROS |