Nº 202201611 Patente registrada en INAPI
Sistema y método para monitorear evaporación a gran escala.
Concedida
Solicitud
202201611
Tipo
Patente de Invención
Registro
69113
Inventores (4)
Personas que figuran como creadoras de la invención
AB
AMOKRANE BERDJA
CHILE
CC
CHRISTIAN DANI GUZMÁN CARMINE
CHILE
FP
FRANCISCO IGNACIO SUÁREZ POCH
CHILE
MR
MAGDALENA MENDOZA RUEDI
CHILE
Solicitantes (2)
Personas o empresas que solicitan la patente
FC
FUNDACIÓN COPEC - UNIVERSIDAD CATÓLICA.BR.
CHILE
PC
PONTIFICIA UNIVERSIDAD CATÓLICA DE CHILE
CHILE
Representantes legales (2)
Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI
EL
ESTUDIO CAREY LIMITADA
RUT 77907950-3
FC
Francisco Carey Carvallo
Clasificación CIP (3)
Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes
G01N21/00
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas G01N21/17
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas => Sistemas en los que la luz incidente es modificada con arreglo a las propiedades del material examinado G01N21/41
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas => => Refracción