Sistema y metodo para medir la magnetizacion en una muestra.

  • Nro. Solicitud: 201902837
  • Tipo de Solicitud: Patente de Invención
  • Fecha de presentación de la solicitud: 04/10/2019
  • Estado de Trámite: Registrada
  • Número de registro: 62997
  • Fecha de asignación de número de registro: 24/09/2021
  • Fecha de publicación: 28/02/2020
  • Fecha prevista de la expiración del registro: 04/10/2039

Título de la solicitud

SISTEMA Y METODO PARA MEDIR LA MAGNETIZACION EN UNA MUESTRA.

Solicitante(s)

Nombre Solicitante País
UNIVERSIDAD TECNICA FEDERICO SANTA MARIA CHILE

Representante(s)

Nombre Representante País
JARRY IP SPA CHILE

Inventores

Nombre Inventor País
CARLOS GARCIA GARCIA CHILE
CHRISTIAN ANTONIO ORELLANA GOMEZ CHILE
CLAUDIO ALEJANDRO GONZALEZ FUENTES CHILE
IGNACIO IVAN RADIC BRITO CHILE

Clasificación IPC

G01R33/02; G01R33/12;
IPC Descripción
G01R33/02 DISPOSITIVOS O APARATOS PARA LA MEDIDA DE VALORES MAGNÉTICOS => MEDIDA DE LA DIRECCIÓN O DE LA INTENSIDAD DE CAMPOS MAGNÉTICOS O DE FLUJOS MAGNÉTICOS
G01R33/12 DISPOSITIVOS O APARATOS PARA LA MEDIDA DE VALORES MAGNÉTICOS => MEDIDA DE PROPIEDADES MAGNÉTICAS DE ARTÍCULOS O MUESTRAS DE SÓLIDOS O DE FLUIDOS

Datos relativos a la prioridad

Fecha Número País
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