SISTEMA Y METODO PARA EL MONITOREO EN FORMA REMOTA DE PROCESOS DE MANUFACTURA DISCRETA QUE RESULTA EN REPORTES DE PRODUCTIVIDAD DEL PROCESO.

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  • Nro. Solicitud: 200600763
  • Tipo de Solicitud: Patente de Invención
  • Fecha de presentación de la solicitud: 04/04/2006
  • Estado de Trámite: Caducada
  • Número de registro: 45924
  • Fecha de asignación de número de registro: 17/12/2009
  • Fecha de publicación: 11/08/2006
  • Fecha prevista de la expiración del registro: 04/04/2026

Título de la solicitud


SISTEMA Y METODO PARA EL MONITOREO EN FORMA REMOTA DE PROCESOS DE MANUFACTURA DISCRETA QUE RESULTA EN REPORTES DE PRODUCTIVIDAD DEL PROCESO.

Solicitante(s)


Nombre Solicitante País
UNIVERSIDAD TECNICA FEDERICO SANTA MARIA CHILE

Representante(s)


Nombre Representante País
ALCAYAGA & CIA. CHILE

Inventores


Nombre Inventor País
RAUL STEGMAIER B. CHILE
PABLO ESCALONA R. CHILE
ALEJANDRO WEINSTEIN O. CHILE
JUAN HERNANDEZ D. CHILE
DANIEL RODRIGUEZ S. CHILE
EUGENIO GONZALEZ V. CHILE

Clasificación IPC


G05B11/00; G06F17/00; G07C3/00;
IPC Descripción
G05B11/00 CONTROLADORES AUTOMÁTICOS
G06F17/00 EQUIPO O MÉTODOS DE PROCESAMIENTO DE DATOS O DE CÁLCULO DIGITAL, ESPECIALMENTE ADAPTADOS PARA FUNCIONES ESPECÍFICAS
G07C3/00 REGISTRO O INDICACIÓN DEL ESTADO O DEL FUNCIONAMIENTO DE MÁQUINAS O DE OTROS APARATOS CON LA EXCLUSIÓN DE VEHÍCULOS

Datos relativos a la prioridad


Fecha Número País
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