Nº 202103446 Patente registrada en INAPI
Sistema y método de medición de espesor
Concedida
Solicitud
202103446
Tipo
Patente de Invención
Registro
68425
Inventores (2)
Personas que figuran como creadoras de la invención
JM
JENKINS, MICHAEL
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
NP
NEUMANN, PETER
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
Solicitantes (1)
Personas o empresas que solicitan la patente
JM
JENKINS, MICHAEL
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
Representantes legales (1)
Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI
Clasificación CIP (3)
Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes
G01B21/32
Sistemas de medición, o sus partes constitutivas, en los que la técnica de medida no está cubierta por los otros grupos de esta subclase, no está especificada o no es relevante => para la medida de la deformación de un sólido G01B7/16
Sistemas de medición caracterizados por el empleo de técnicas eléctricas o magnéticas => para la medida de la deformation de un sólido, p. ej. galga extensiométrica resistiva G01N29/24
Investigación o análisis de materiales por el empleo de ondas ultrasonoras, sonoras o infrasonoras => Detalles => => Sondas