Título de la solicitud
METODO PARA IDENTIFICAR CON PRECISION LOS DEPOSITOS ORGANICOS DE LAS DEPOSICIONES EN UN PROCESO DE FABRICACION DE PAPEL, QUE MIDE LA VELOCIDAD DE DEPOSICION SOBRE UNA MICROBALANZA DE CRISTAL DE CUARZO CON CARA SUPERIOR EN CONTACTO CON MEDIO ACUOSO Y CARA INFERIOR AISLADA.
Solicitante(s)
| Nombre Solicitante | País |
| NALCO COMPANY, SOCIEDAD ANONIMA ORGANIZADA BAJO LAS LEYES DEL ESTADO DE DELAWARE | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |
Representante(s)
Inventores
| Nombre Inventor | País |
| PRASAD DUGGIRALA | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |
| SERGEY SHEVCHENKO | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |
Clasificación IPC
G01F23/28; G01N11/00; G01N33/34;
| IPC | Descripción |
| G01F23/28 | INDICACIÓN O MEDIDA DEL NIVEL DE LÍQUIDOS O MATERIALES SÓLIDOS FLUYENTES, P. EJ. INDICACIÓN EN TÉRMINOS DE VOLUMEN O INDICACIÓN POR MEDIO DE UNA SEÑAL DE ALARMA => MEDIANTE LA MEDIDA DE VARIABLES FÍSICAS, SALVO DIMENSIONES LINEALES, PRESIÓN O PESO, QUE DEPENDAN DEL NIVEL A MEDIR, P. EJ. MEDIANTE LA DIFERENCIA EN LA TRANSMISIÓN DE CALOR DEL VAPOR O DEL AGUA => => MEDIANTE LA MEDIDA DE VARIACIONES DE PARÁMETROS DE ONDAS ELECTROMAGNÉTICAS O ACÚSTICAS APLICADAS DIRECTAMENTE AL LÍQUIDO O MATERIAL SÓLIDO FLUYENTE |
| G01N11/00 | INVESTIGACIÓN DE LAS PROPIEDADES DE FLUJO DE MATERIALES, P. EJ. VISCOSIDAD O PLASTICIDAD |
| G01N33/34 | INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES POR MÉTODOS ESPECÍFICOS NO CUBIERTOS POR LOS GRUPOS
=> PAPEL |
Datos relativos a la prioridad
| Fecha | Número | País |
| 09/06/2005 | 11/148.639 | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |