Nº 200800145 Patente registrada en INAPI
Metodo para evaluar los catodos y las celdas electroliticas que incluye identificar su procedencia; medir los parametros relacionados con la calidad del catodo; registrar los datos medidos en una base de datos; procesar y analizar los datos para obtener las tendencias y estimar los valores futuros.
Caducada
Solicitud
200800145
Tipo
Patente de Invención
Registro
46922
Inventores (5)
Personas que figuran como creadoras de la invención
DC
DANIEL SERPELL CARRIQUIRY
CHILE
FA
FERNANDO DIAZ ALONSO
CHILE
GQ
GUILLERMO VIDAL QUEVEDO
CHILE
JM
JAIME RAMIREZ MANCILLA
CHILE
RN
REINER BREUER NARVAEZ
CHILE
Solicitantes (1)
Personas o empresas que solicitan la patente
AS
APLIK S.A.
CHILE
Representantes legales (1)
Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI
MA
MILENA ALCAYAGA
Clasificación CIP (3)
Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes
C25C1/00
Producción electrolítica, recuperación o afinación de metales por electrólisis de soluciones C25D21/12
Procedimientos para el servicio u operación de las células para revestimiento electrolítico => Control o regulación G01N21/00
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas