Nº 200800145 Patente registrada en INAPI

Metodo para evaluar los catodos y las celdas electroliticas que incluye identificar su procedencia; medir los parametros relacionados con la calidad del catodo; registrar los datos medidos en una base de datos; procesar y analizar los datos para obtener las tendencias y estimar los valores futuros.

Caducada
Solicitud
200800145
Tipo
Patente de Invención
Registro
46922

Inventores (5)

Personas que figuran como creadoras de la invención

DC
DANIEL SERPELL CARRIQUIRY
CHILE
FA
FERNANDO DIAZ ALONSO
CHILE
GQ
GUILLERMO VIDAL QUEVEDO
CHILE
JM
JAIME RAMIREZ MANCILLA
CHILE
RN
REINER BREUER NARVAEZ
CHILE

Solicitantes (1)

Personas o empresas que solicitan la patente

AS
APLIK S.A.
CHILE

Representantes legales (1)

Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI

MA
MILENA ALCAYAGA

Clasificación CIP (3)

Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes

C25C1/00
Producción electrolítica, recuperación o afinación de metales por electrólisis de soluciones
C25D21/12
Procedimientos para el servicio u operación de las células para revestimiento electrolítico => Control o regulación
G01N21/00
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas