Nº 202101847 Patente registrada en INAPI
Método para determinar planos focales de referencia
Concedida
Solicitud
202101847
Tipo
Patente de Invención
Registro
67673
Inventores (3)
Personas que figuran como creadoras de la invención
CB
CAHOON, BENJAMIN
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
LS
LARSON, BENJAMIN, S.
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
SS
SWENSON, SHANE
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
Solicitantes (1)
Personas o empresas que solicitan la patente
TI
TECHCYTE, INC.
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
Representantes legales (1)
Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI
Clasificación CIP (6)
Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes
G02B21/24
Microscopios => Estructura del bastidor o pedestal G02B21/26
Microscopios => Estructura del bastidor o pedestal => => Platinas G02B21/34
Microscopios => Platinas de microscopios, p. ej. montaje de muestras sobre las platinas de microscopio G06T7/13
Análisis de imagen => Segmentación => => Detección de bordes G06T7/73
Análisis de imagen => Determinación de la posición o la orientación de objetos o cámaras => => utilizando métodos basados en características G01N33/483
Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos
=> Material biológico, p. ej. sangre, orina => => Análisis físico de material biológico