Nº 200100883 Patente registrada en INAPI
Metodo para analizar una muestra de gas y determinar la presencia de una impureza en la muestra, que incluye la combinacion de la muestra de gas con un gas portador, la separacion de la muestra de gas, y el analisis de la mezcla del gas portador y de la impureza por espectroscopia de emision.
Concedida
Solicitud
200100883
Tipo
Patente de Invención
Registro
48866
Inventores (1)
Personas que figuran como creadoras de la invención
MM
MARK LEONARD MALCZEWSKI
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
Solicitantes (1)
Personas o empresas que solicitan la patente
PI
PRAXAIR TECHNOLOGY, INC.
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
Representantes legales (1)
Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI
Clasificación CIP (4)
Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes
G01N1/00
Muestreo G01N1/22
Muestreo => Dispositivos para tomar muestras => => en estado gaseoso G01N21/62
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas => Sistemas en los cuales el material analizado se excita de forma que emita luz o produzca un cambio de la longitud de onda de la luz incidente G01N30/74
Investigación o análisis de materiales por separación en constituyentes utilizando la adsorción, la absorción o fenómenos similares o utilizando el intercambio iónico, p. ej. la cromatografía => Detectores especialmente adaptados a este efecto => => Detectores ópticos