Título de la solicitud
METODO PARA ANALIZAR UNA MUESTRA DE GAS Y DETERMINAR LA PRESENCIA DE UNA IMPUREZA EN LA MUESTRA, QUE INCLUYE LA COMBINACION DE LA MUESTRA DE GAS CON UN GAS PORTADOR, LA SEPARACION DE LA MUESTRA DE GAS, Y EL ANALISIS DE LA MEZCLA DEL GAS PORTADOR Y DE LA IMPUREZA POR ESPECTROSCOPIA DE EMISION.
Solicitante(s)
| Nombre Solicitante | País |
| PRAXAIR TECHNOLOGY, INC. | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |
Representante(s)
Inventores
| Nombre Inventor | País |
| MARK LEONARD MALCZEWSKI | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |
Clasificación IPC
G01N1/00; G01N1/22; G01N21/62; G01N30/74;
| IPC | Descripción |
| G01N1/00 | MUESTREO |
| G01N1/22 | MUESTREO => DISPOSITIVOS PARA TOMAR MUESTRAS => => EN ESTADO GASEOSO |
| G01N21/62 | INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE LOS MATERIALES POR LA UTILIZACIÓN DE MEDIOS ÓPTICOS, ES DECIR, UTILIZANDO RAYOS INFRARROJOS, VISIBLES O ULTRAVIOLETAS => SISTEMAS EN LOS CUALES EL MATERIAL ANALIZADO SE EXCITA DE FORMA QUE EMITA LUZ O PRODUZCA UN CAMBIO DE LA LONGITUD DE ONDA DE LA LUZ INCIDENTE |
| G01N30/74 | INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES POR SEPARACIÓN EN CONSTITUYENTES UTILIZANDO LA ADSORCIÓN, LA ABSORCIÓN O FENÓMENOS SIMILARES O UTILIZANDO EL INTERCAMBIO IÓNICO, P. EJ. LA CROMATOGRAFÍA => DETECTORES ESPECIALMENTE ADAPTADOS A ESTE EFECTO => => DETECTORES ÓPTICOS |
Datos relativos a la prioridad
| Fecha | Número | País |
| 19/04/2000 | 09/552,734 | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |