METODO PARA ANALIZAR UNA MUESTRA DE GAS Y DETERMINAR LA PRESENCIA DE UNA IMPUREZA EN LA MUESTRA, QUE INCLUYE LA COMBINACION DE LA MUESTRA DE GAS CON UN GAS PORTADOR, LA SEPARACION DE LA MUESTRA DE GAS, Y EL ANALISIS DE LA MEZCLA DEL GAS PORTADOR Y DE LA IMPUREZA POR ESPECTROSCOPIA DE EMISION.

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  • Nro. Solicitud: 200100883
  • Tipo de Solicitud: Patente de Invención
  • Fecha de presentación de la solicitud: 18/04/2001
  • Estado de Trámite: Registrada
  • Número de registro: 48866
  • Fecha de asignación de número de registro: 21/02/2013
  • Fecha de publicación: 22/02/2002
  • Fecha prevista de la expiración del registro: 19/11/2027

Título de la solicitud


METODO PARA ANALIZAR UNA MUESTRA DE GAS Y DETERMINAR LA PRESENCIA DE UNA IMPUREZA EN LA MUESTRA, QUE INCLUYE LA COMBINACION DE LA MUESTRA DE GAS CON UN GAS PORTADOR, LA SEPARACION DE LA MUESTRA DE GAS, Y EL ANALISIS DE LA MEZCLA DEL GAS PORTADOR Y DE LA IMPUREZA POR ESPECTROSCOPIA DE EMISION.

Solicitante(s)


Nombre Solicitante País
PRAXAIR TECHNOLOGY, INC. ESTADOS UNIDOS DE AMERICA

Representante(s)


Inventores


Nombre Inventor País
MARK LEONARD MALCZEWSKI ESTADOS UNIDOS DE AMERICA

Clasificación IPC


G01N1/00; G01N1/22; G01N21/62; G01N30/74;
IPC Descripción
G01N1/00 MUESTREO
G01N1/22 MUESTREO => DISPOSITIVOS PARA TOMAR MUESTRAS => => EN ESTADO GASEOSO
G01N21/62 INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE LOS MATERIALES POR LA UTILIZACIÓN DE MEDIOS ÓPTICOS, ES DECIR, UTILIZANDO RAYOS INFRARROJOS, VISIBLES O ULTRAVIOLETAS => SISTEMAS EN LOS CUALES EL MATERIAL ANALIZADO SE EXCITA DE FORMA QUE EMITA LUZ O PRODUZCA UN CAMBIO DE LA LONGITUD DE ONDA DE LA LUZ INCIDENTE
G01N30/74 INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES POR SEPARACIÓN EN CONSTITUYENTES UTILIZANDO LA ADSORCIÓN, LA ABSORCIÓN O FENÓMENOS SIMILARES O UTILIZANDO EL INTERCAMBIO IÓNICO, P. EJ. LA CROMATOGRAFÍA => DETECTORES ESPECIALMENTE ADAPTADOS A ESTE EFECTO => => DETECTORES ÓPTICOS

Datos relativos a la prioridad


Fecha Número País
19/04/2000 09/552,734 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA