Nº 200802640 Patente registrada en INAPI
Estacion de inspeccion de la calidad fisica de catodos, para generar un espacio controlado de luz para inspeccionar dichos catodos con equipos digitales y automaticos, comprende un sistema de inspeccion optica, una carcasa protectora, un vano de entrada y otro de salida para el paso del catodo en forma inclinada.
Concedida
Solicitud
200802640
Tipo
Patente de Invención
Registro
53842
Inventores (1)
Personas que figuran como creadoras de la invención
MO
MAURICIO TELIAS HASSON, PATRICIO REINOSO, JALIL CAMPOS OLGUIN.
CHILE
Solicitantes (2)
Personas o empresas que solicitan la patente
CC
CORPORACION NACIONAL DEL COBRE DE CHILE-CODELCO CHILE.BR.
CHILE
IS
INSTITUTO DE INNOVACION EN MINERIA Y METALURGIA S.A.
CHILE
Representantes legales (1)
Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI
PN
PEDRO CORTEZ NAVIA
Clasificación CIP (2)
Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes
G01N21/88G
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas => NO EXISTE EN LA VERSION 2025 G01N21/00
Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas