DISPOSITIVO SENSOR DE LARGO ALCANCE PARA OBTENER UN PERFIL DE DEFORMACIONES LINEALES EN UNA ESTRUCTURA SOLIDA, COMPRENDE MEDIOS DE ANCLAJE SOLIDARIOS A UN COMPARTIMIENTO CILINDRICO PARA FIJARSE DENTRO DE UNA PERFORACION, PIEZA DE SOPORTE CILINDRICA, UN PRIMER TUBO POSICIONADOR, UNA FIBRA OPTICA, UN TUBO MODULAR; Y METODO.

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  • Nro. Solicitud: 201000896
  • Tipo de Solicitud: Patente de Invención
  • Fecha de presentación de la solicitud: 23/08/2010
  • Estado de Trámite: Registrada
  • Número de registro: 48533
  • Fecha de asignación de número de registro: 29/08/2012
  • Fecha de publicación: 24/12/2010
  • Fecha prevista de la expiración del registro: 23/08/2030

Título de la solicitud

DISPOSITIVO SENSOR DE LARGO ALCANCE PARA OBTENER UN PERFIL DE DEFORMACIONES LINEALES EN UNA ESTRUCTURA SOLIDA, COMPRENDE MEDIOS DE ANCLAJE SOLIDARIOS A UN COMPARTIMIENTO CILINDRICO PARA FIJARSE DENTRO DE UNA PERFORACION, PIEZA DE SOPORTE CILINDRICA, UN PRIMER TUBO POSICIONADOR, UNA FIBRA OPTICA, UN TUBO MODULAR; Y METODO.

Solicitante(s)

Nombre Solicitante País
MICOMO S.A. CHILE

Representante(s)

Nombre Representante País
LANGTON CLARKE Y CIA LTDA CHILE

Inventores

Nombre Inventor País
ALVAREZ VALLEJOS ALEJANDRA CHILE
GONZALEZ VAN DE PERRE JUAN PABLO CHILE
MOFFAT RICARDO CHILE

Clasificación IPC

G01B11/00; G01B11/06;
IPC Descripción
G01B11/00 SISTEMAS DE MEDICIÓN CARACTERIZADOS POR EL EMPLEO DE TÉCNICAS ÓPTICAS
G01B11/06 SISTEMAS DE MEDICIÓN CARACTERIZADOS POR EL EMPLEO DE TÉCNICAS ÓPTICAS => PARA LA MEDIDA DE LA LONGITUD, LA ANCHURA O EL ESPESOR => => PARA LA MEDIDA DEL ESPESOR

Datos relativos a la prioridad

Fecha Número País
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