Nº 201401264 Patente registrada en INAPI
Aparato y metodo para monitorear a un contenedor metalico con una capa interna de un material refractario que usan un sistema termografico y un sistema de escaneo para hacer perfiles espaciales de temperatura externa y de espesor detectando luego un defecto en el material refractario con una combinacion de los perfiles.
Concedida
Solicitud
201401264
Tipo
Patente de Invención
Registro
56416
Inventores (3)
Personas que figuran como creadoras de la invención
BP
BONIN, MICHEL, PIERRE
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
HL
HARVILL, THOMAS, LAWRENCE
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
HH
HOOG, JARED, HUBERT
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
Solicitantes (1)
Personas o empresas que solicitan la patente
PM
PROCESS METRIX
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
Representantes legales (1)
Estudios jurídicos o agentes registrados ante INAPI
SK
SARGENT & KRAHN.
Clasificación CIP (2)
Códigos de la Clasificación Internacional de Patentes
G01B11/26
Sistemas de medición caracterizados por el empleo de técnicas ópticas => para la medida de ángulos o conicidades G01N25/72
Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de medios térmicos => Investigación de la presencia de grietas Datos de prioridad (1)
Prioridades reclamadas en otras jurisdicciones
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA
Nº 13/296.301
15/11/2011