Título de la solicitud
APARATO Y METODO PARA MONITOREAR A UN CONTENEDOR METALICO CON UNA CAPA INTERNA DE UN MATERIAL REFRACTARIO QUE USAN UN SISTEMA TERMOGRAFICO Y UN SISTEMA DE ESCANEO PARA HACER PERFILES ESPACIALES DE TEMPERATURA EXTERNA Y DE ESPESOR DETECTANDO LUEGO UN DEFECTO EN EL MATERIAL REFRACTARIO CON UNA COMBINACION DE LOS PERFILES.
Solicitante(s)
| Nombre Solicitante | País |
| PROCESS METRIX | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |
Representante(s)
| Nombre Representante | País |
| SARGENT & KRAHN. | CHILE |
Inventores
| Nombre Inventor | País |
| BONIN, MICHEL, PIERRE | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |
| HARVILL, THOMAS, LAWRENCE | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |
| HOOG, JARED, HUBERT | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |
Clasificación IPC
G01B11/26; G01N25/72;
| IPC | Descripción |
| G01B11/26 | SISTEMAS DE MEDICIÓN CARACTERIZADOS POR EL EMPLEO DE TÉCNICAS ÓPTICAS => PARA LA MEDIDA DE ÁNGULOS O CONICIDADES |
| G01N25/72 | INVESTIGACIÓN O ANÁLISIS DE MATERIALES MEDIANTE LA UTILIZACIÓN DE MEDIOS TÉRMICOS => INVESTIGACIÓN DE LA PRESENCIA DE GRIETAS |
Datos relativos a la prioridad
| Fecha | Número | País |
| 15/11/2011 | 13/296.301 | ESTADOS UNIDOS DE AMERICA |