SISTEMA Y METODO PARA MEDIR INTERFERENCIA ELECTROMAGNETICA (EMI) CONDUCIDA, QUE PERMITE REALIZAR UN DIAGNOSTICO DE COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNETICA (EMC), DE ACUERDO A NORMAS INTERNACIONALES, EN EQUIPOS BAJO PRUEBA (EUT) ELECTRICOS TRIFASICOS DE USO INDUSTRIAL.

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  • Nro. Solicitud: 200703883
  • Tipo de Solicitud: Patente de Invención
  • Fecha de presentación de la solicitud: 31/12/2007
  • Estado de Trámite: Registrada
  • Número de registro: 46971
  • Fecha de asignación de número de registro: 31/08/2010
  • Fecha de publicación: 30/01/2009
  • Fecha prevista de la expiración del registro: 31/12/2027

Título de la solicitud

SISTEMA Y METODO PARA MEDIR INTERFERENCIA ELECTROMAGNETICA (EMI) CONDUCIDA, QUE PERMITE REALIZAR UN DIAGNOSTICO DE COMPATIBILIDAD ELECTROMAGNETICA (EMC), DE ACUERDO A NORMAS INTERNACIONALES, EN EQUIPOS BAJO PRUEBA (EUT) ELECTRICOS TRIFASICOS DE USO INDUSTRIAL.

Solicitante(s)

Nombre Solicitante País
UNIVERSIDAD TECNICA FEDERICO SANTA MARIA CHILE

Representante(s)

Nombre Representante País
ASESORIAS MILENA ALCAYAGA CHILE

Inventores

Nombre Inventor País
ALAN TORO SALAS CHILE
CRISTIAN FUENTES R. CHILE
HECTOR CARRASCO E. CHILE
JORGE PONTT OLIVARES CHILE
MANUEL L. ORMENO CHILE
RICARDO OLIVARES VELIZ CHILE

Clasificación IPC

G01R29/08; H05K9/00;
IPC Descripción
G01R29/08 DISPOSITIVOS PARA REALIZAR MEDIDAS O INDICACIONES DE VALORES ELÉCTRICOS NO COMPRENDIDOS EN LOS GRUPOS => MEDIDA DE LAS CARACTERÍSTICAS DEL CAMPO ELECTROMAGNÉTICO
H05K9/00 BLINDAJE DE APARATOS O DE COMPONENTES CONTRA LOS CAMPOS ELÉCTRICOS O MAGNÉTICOS

Datos relativos a la prioridad

Fecha Número País
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